球差透射电镜TEM测试检测

  • 国家
    美国 FEI
  • 型号
    Titan ETEM G2
  • 测试项目
    形貌、晶格条纹、原子相、明暗场、高倍率能谱分析
  • 样品要求
    拍摄高分辨图像的样品要求厚度在10 nm以下,5 nm以下才能获得较好的原子像。 粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上,或者是悬空的(比如使用微栅碳支持膜),并且干燥,能够区分支持膜正反面。 块体样品,要求样品大小为直径3 mm的圆,厚度为200 nm以下;金属样品建议使用FIB的办法来进行减薄,这样获得快捷方便。可以测试磁性样品,但分辨率会有所下降。

  拍摄高分辨图像的样品要求厚度在10 nm以下,5 nm以下才能获得较好的原子像。

  粉末样品,要求样品均匀分散在支持膜上,或者是悬空的(比如使用微栅碳支持膜),并且干燥,能够区分支持膜正反面。

  块体样品,要求样品大小为直径3 mm的圆,厚度为200 nm以下;金属样品建议使用FIB的办法来进行减薄,这样获得快捷方便。可以测试磁性样品,但分辨率会有所下降。

  

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