透射电镜TEM测试：薄膜、截面、块体样品FIB制样+测试

• 国家

  美国
• 型号

  FEI Tecnai G2 F20
• 测试项目

  薄膜样品截面样品块体样品形貌高倍、衍射、能谱（点线面），擅长截面样品测试
• 样品要求

  根据不同的样品采取不同的制样方法，一般有离子减薄，双喷，FIB切割，请联系业务人员，根据样品属性具体讨论制样方案