TEM透射电镜测试

  • 国家
    日本电子
  • 型号
    JEOL2100F
  • 测试项目
    形貌观察、晶格(HRTEM)、衍射(SADE)、能谱(点扫,线扫,面扫mapping)
  • 样品要求
    粉末—测试高分辨需要粒径小于200nm;液体—20ml;

透射电镜测试是一个相对比较主观性的测试,为了达到最佳的测试效果,以下测试条件尽可能全面提供,样品用什么溶剂分散?是否需要超声?超声多久较为合适?样品参考文献或者图片。

对于块体样品制样,我们可以提供双喷和离子减薄,还有FIB离子束切割。

双喷和离子减薄需要将样品磨到200um以下,直径3mm,如果没有这个条件请寄样2-4片0.5cm*0.5cm*0.1cm(厚度)材料。FIB制样根据技术人员要求制定样品大小。
 

●  技术参数

1. 点分辨率:0.24nm

2. 线分辨率:0.10nm

3. 加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4. 倾斜角:255STEM分辨率:0.20nm。
合作案例:

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